| 产品特性：稳定 | 品牌：鸿飞通联 |
产品简介
光纤剖面分析仪 RIP-100 可以测试各种类 型光纤的折射率分布，并给出光纤轴向的三 维分布式折射率分布，辅助可以测试各种类 型光纤的折射率分布，并给出光纤轴向的三 维分布式折射率分布，辅助 NA 计算。此外 RIP-100 也可以测量光纤的几何特征参数、 掺稀土光纤的增益剖面。
产品应用
光纤剖面分析仪 RIP-100 可用于分析微结构 光纤、光纤合束器、高功率有源光纤，研究 各类型光纤制备工艺、拉锥工艺、熔接工 艺。可用于分析微结构光纤、光纤合束器、 高功率有源光纤，研究各类型光纤制备工 艺、拉锥工艺、熔接工艺。
规格参数
| 参数 | 典型值 |
| 折射率精度 | ±0.0001 |
| 空间分辨率 | 优于 500nm |
| 测量波长范围 | 典型值 632nm （波长可定制） |
| 光纤直径 | 40μm-800μm |
| 光纤材料 | 石英， 塑料 ，其他透明材料 |
| 光纤类型 | 单/多模,大模场面积，掺稀土,包层泵浦,微结构,保偏等光纤 |
| 同心度误差 | ±200nm |
| 纤芯不圆度误差 | ±0.4% |
