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包层几何参数测试仪

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产品特性:准确、稳定品牌:鸿飞通联

包层几何参数测试仪详细介绍

产品简介:包层几何参数测试仪CLA-600可用于测量各种类型光纤的包层几何参数。其采用独特的明场照明光路获取高对比度的包层截面图像,并配合高速对焦采集系统,可为研发及生产用户进行快速、准确、稳定的几何参数测量。


产品应用:包层几何参数测试仪CLA-600可用于测量各种类型光纤的几何参数,除常用的包层直径、纤芯直径、同心度、不圆度等参数外,还可根据用户需要提供保偏光纤纤芯、应力区,有源光纤八边形、圆内接八边形等专用几何分析模板。


规格参数:


参数典型值
测试时长<15s
光纤直径80μm—600μm/600μm—1200μm
重复性

芯层直径            <0.02μm

包层直径            <0.01μm

芯层不圆度         <0.5%

包层不圆度         <0.05%

芯包层同心度      <0.01μm


端面倾斜判断<1°
光纤类型单/多模,大模场面积,掺稀土,包层泵浦,微结构,保偏等光纤


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